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Focused Ion Beam (FIB) based thin film tomography is suited to analyze complex forms of pattern formation in thin films. Under ideal conditions it is possible to identify morpholigical features with only a few nanometers in size.
Nanoporous Pt-based Thin Films by Dealloying |
Thin Film Instabilities (Solid State Dewetting) |
Nanoporous Ceramic Thin Films |
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[1] Phys. Rev. Lett. 107, 225503 (2011) or arXiv or arXiv |
[1] Phys. Rev. B 82, 235415 (2010) [2] Phys. Rev. B 85, 125408 (2012) or arXiv |
[1] Adv. Funct. Mater. XX, XX (2012) |
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